Kliska mikroskopio

Kliska mikroskopioa edo estereokonparagailua, astronomian zeru objektuetan mugimenduak edo distira aldaketak neurtzeko erabiltzen den tresna bat da. Estereokonparagailua oso erabilgarria zen kometak, izar bikoitzak, asteroideak, izar aldakorrak eta izarren desplazamendua detektatzeko.

Pluton planeta nanoa aurkitzeko erabili zen Lowell Behatokiko kliska mikroskopioa.

Tresna hau, oinarrian modu optikoan bi argazki plaka gainjartzen diren mikroskopio bat da, azkar aldatuz batetik bestera. Honela bi irudiak alderatu eta euren artean diferentziak detekta daitezke. Gaur egun tresna hau funtsean lan bera baina abiadura eta zehaztasun gehiagoz egiten duten konputagailuen erabileragatik aldatu da.

Funtzionamendu printzipioaAldatu

Gaueko zeruaren eremu baten argazkiak hartzen dira une edo garai ezberdinetan, ondoren argazkiak sekuentzia azkar edo "kliskatan" aztertzen dira okular baten bidez. Hala posible da objektu baten distira edo posizioan aldaketak aurkitzea.

Pluton planetaren aurkikuntzaAldatu

1930ean Clyde Tombaughek Pluton planeta estereokonparagailu bat erabiliz aurkitu zuen. Bere aurkikuntzarako alderatu zituen argazkiak 1930eko urtarrilak 23 eta 29ko gauetan hartuak izan ziren.

Kanpo estekakAldatu