Mikroskopio elektroniko: berrikuspenen arteko aldeak

Ezabatutako edukia Gehitutako edukia
t Robota: Testu aldaketa automatikoa (-\{\{Vikidia\|.*\}\} +)
No edit summary
10. lerroa:
Lehen [[lente elektromagnetikoa]] asmatu ondoren (1926), elektroiekin zebilen mikroskopioen
ideia esnatu zen. 1931. urtean [[Ernst Ruska]] fisikariak eta [[Max Knoll]] ingeniari elektrikoak x400eko irudi handitzea zuen mikroskopio elektronikoaren prototipo bat aurkeztu zuten.<ref name=RuskaAutobiography>{{en}} Ruska, Ernst (1986). "Ernst Ruska Autobiography". Nobel Foundation.</ref> Bi urte geroago, mikroskopio optikoek lortu zezaketen handiagotze maila maximoa gainditzen zuen mikroskopio elektroniko bat eraiki zuen Ernst Ruskak.<ref name=RuskaAutobiography/> Merkatuko lehen mikroskopio elektronikoa 1938an aurkeztu zen.<ref>{{en}} http://authors.library.caltech.edu/5456/1/hrst.mit.edu/hrs/materials/public/ElectronMicroscope/EM_HistOverview.htm</ref>
 
1931an, [[Siemens AG|Siemens]] enpresak mikroskopio elektronikoa patentatu zuen nahiz eta ikerkuntzarik ez zuen egin eta, 1937an, Ruska eta [[von Borries]] ordaindu zituen mikroskopio honen garapena egiteko. Gainera Ruskaren anaia kontratatu zuten zeregin biologikoetan sakontzeko. Horren ostean, 1939an lehen mikroskopio komertziala merkaturatu zuten.
 
1937. urtean beste mikroskopio mota bat asmatu zuen Manfred von Ardenne fisikariak, eskaneatze mikroskopio elektronikoa, alegia.<ref>{{de}} von Ardenne, M; Beischer, D (1940). "Untersuchung von metalloxyd-rauchen mit dem universal-elektronenmikroskop". ''Zeitschrift Electrochemie''. 46: 270–277. doi:10.1002/bbpc.19400460406.</ref>
25 ⟶ 27 lerroa:
[[File:Transmission Electron Microscope operating principle.ogg|thumb|upright=1.5|TEM motako mikroskopioen funtzionamendua]]
 
TEM-ek aztertu nahi den objetua zeharkatu duten elektroiak detektatzen ditu. Hau da, elektroiak azeleratu eta bideratu ostean, gorputzarekin egiten dute talka. Talkaren ondorioz, elektroiek gorputza modifikatzen dute. Errezeptoreak aldaketa hori neurtu eta datu horrekin irudia sortzen dute. Irudiaren bereizmena [[Aberrazio esferiko|aberrazio esferikoak]], astigmatismoaren antzeko efektuak, mugatzen du. Hala ere, badaude "hardware bidezko zuzenketa" deritzen teknikak, irudiaren bereizmena 50 [[Pikometro|pikometrotara]] jaitsi dutenak. Detektatutako elektroiek lagina zeharkatu dutenez, haren barne-egiturari buruzko informazioa dute. Hau dela eta, ez da gainazaleko irudirik lortzen baina plano desberdinetan laginak dituen egiturak ikusten dira.
 
Mota honetako mikroskopioek desabantaila nagusi bat dute. Elektroiek gorputza zeharkatu behar dutenez, derrigorrezkoa da objetu horiek lodiera oso txikia edukitzea (gehienez 100 [[nanometro]]). Fintasun hori lortzeko, laginak deshidratatu, kimikoki tratatu eta [[Erretxina|erretxinan]] bainatu behar dira, aztertze-prozesua garestituz. Bestalde, TEM-ek bakarrik lor ditzakete bi dimentsiotako irudiak.
49 ⟶ 51 lerroa:
 
Eskaneatze mikroskopio elektronikoa hutsean erabiltzean, aztertzen diren laginak [[Eroale elektriko|eroale elektrikoak]] izan behar dute, beraz eroaleak ez diren laginak metalezko geruza mehe batez ([[urre]]a, [[Platino|platinoa]], [[Karbono|karbonoa]] ...) estali behar dira azterketarako.
 
== Laginen prestaketa ==
 
=== Lagin motak eta lagin tamaina ===
Mikroskopio elektronikoaren bidez ikertu daitezkeen laginak sei taldetan sailkatu daitezke: [[Metal|metalak]], material ez-organikoak ([[material zeramikoak]], arroka eta mineralak, [[Mikroelektronika|gailu mikroelektronikoak]] edo [[Fosil|fosilak]]), material organikoak (material naturalak, zuntzak edo janariak esate baterako), [[polimero]] organikoak, [[organismo]] eta material biologikoak eta lagin hezeak. Bakoitzarentzat prestaketa ezberdina izan daiteke. Laginak ekipoaren arabera prestatu behar dira. Orokorrean, SEM-an TEM-an baino lagin handiagoak kargatzea da posible. Laginaren tamaina egokia zein den definitzea zaila da: handiegia bada ez da ikergarria izango eta txikiegia bada lagin hori adierazgarria ez izatea gerta daiteke. Gainera, batzuetan ez da erraza laginaren tamaina egokitzea, adibidez arroka bat ikertzerakoan.
 
=== Laginen eraldaketa ===
Hasteko laginen [[Esposizio (argarkigintza)|esposizioa]] hobetu behar da, hau da, ikusi nahi den atala azaleratu mikroskopioaren bidez irudi ahalik eta argiena lortzeko. Metaletan, zerrekin leundu egiten da gainazala eta analisi kimikorik egingo ez bada [[leunketa kimikoa]] [[azido]] edo [[Base|baseekin]] egin daiteke ere bai. Lagin inorganiko lehorretarako prozedura berdina bete daiteke, baina kontuan hartu behar da hauek hauskorragoak direla eta aplikatutako indar mekanikoak leunagoak izan behar direla. Material organikoaren esposizioa hobetzeko gainazala moztu daiteke laban batekin, baina tratamendu kimikoa ezin da erabili lagin hauek oso sentikorrak direlako. Prozedura antzekoa da polimero organikoentzat baina hauek gogortasun handiagoa izan dezakete. Lagin biologikoak orokorrean egonkortu behar dira [[Erretxina|erretxinen]] bidez, baina mozteko errazak dira.
 
Lagin hezeek arazo handiagoak aurkezten dituzte: lagin hauek zuzenean neurtzeko euskarri sekundario bereziak behar izango dituzte, zeinak baporea askatzeko gai diren. Bestela, lagin hauek deshidratatzea da posible, baina lehortze prozedurek gatzen [[kristalizazioa]] eta [[Presio osmotiko|presio osmotikoaren]] aldaketak sor dezakete. Teknika erabilienak honetarako aire bidezko lehorketa eta [[deshidratazio kimikoa]] dira. Azken honetan ura konposatu organiko batekin erreakzionarazten da likido organiko bat lortzeko eta honela ura eliminatzeko.
 
Aipatzekoa da lagina aurretiaz garbitu behar dela gainazalean erantsita geratzen diren gantzak eliminatzeko. Berriz ere, metalak eta lagin inorganikoak kimikoki tratatzea posible da detergente eta disolbatzaile organikoekin. Beste laginak, zeinak sentikorragoak diren, aire korronteak, [[mikro-aspiragailuak]] eta ura erabiliz garbitzen dira.
 
Gainazalean sor daitezkeen [[Elektrizitate estatiko|karga estatikoak]] eliminatu behar dira, laginera zuzendutako elektroiak laginaren gainazalean mugitzea ahalbidetuz. Horretarako laginaren gainazala elektrikoki [[Eroankortasun elektriko|eroankorra]] egin behar da, geruza metaliko bat erantsiz edo baldintza esperimentalak aldatuz karga gutxiago sortzeko gainazalean.
 
=== Laginen kokapena ===
Laginak mikroskopioan eutsita geratzea garrantzitsua da, analisian zehar momentu oro orientazio egokian egon dadin. Kontuan hartu behar da analisian sortzen den elektrizitate estatikoa eliminatzeko euskarri eroaleak erabili behar direla. Beraz, soilik eroankortasun elektriko altuko laginak, hots, metalikoak, ikertu ahal izango dira mikroskopio elektronikoz euskarririk gabe. Euskarrien artean bi mota daude: [[Euskarri primarioak (mikroskopio elektronikoa)|primarioak]] eta [[Euskarri sekundarioak (mikroskopio elektronikoa)|sekundarioak]]. Primarioak euskarri metalikoak dira, [[aluminio]] edo [[Aleazio|aluminio-aleazioz]] egindakoak, elektrizitatea eroateko diseinatuta daudenak. Euskarri hauek ez dira beti lagina eusteko egokiak eta kasu hauetan euskarri sekundarioak erabili behar dira: hauek egitura bereziak dituzte euskarri primarioekin lotzeko eta hauen erabilpena laginaren itxurarekin erlazio hurbilagoa du. Adibidez, partikulak ikusteko polimero edo beira xafletan eusten dira, edo material [[Biopsia|biopsiatua]] ikertzeko barrunbe hutseko orratzak erabiltzen dira.
 
==Aplikazioak==