Mikroskopio elektroniko: berrikuspenen arteko aldeak

Ezabatutako edukia Gehitutako edukia
Orri berria: «thumb|right|[[Ernst Ruska|Ernst Ruskak 1933. urtean eraikitako mikroskopio elektronikoa]] '''Mikrosk...»
 
No edit summary
2. lerroa:
'''Mikroskopio elektronikoa''', ikusi nahi den objektua “argiztatzeko” [[Elektroi|elektroiak]] erabiltzen dituen [[Mikroskopio|mikroskopioa]] da. Mikroskopio hauek teknika zuzenak erabiliz 50pm-ko<ref> Erni, Rolf; Rossell, MD; Kisielowski, C; Dahmen, U (2009). "Atomic-Resolution Imaging with a Sub-50-pm Electron Probe". Physical Review Letters. 102 (9): 096101. Bibcode:2009PhRvL.102i6101E. doi:10.1103/PhysRevLett.102.096101. PMID 19392535.</ref> (50*10<sup>-12</sup>m) bereizmena lortu dezakete, praktikan x10.000.000 inguruko irudi handiagotze batera itzultzen dena. Abantaila guzti hauek, [[mikroskopio optikoa]] batekin alderatuz, elektroiaren [[uhin luzera]], argiarena baino 100.000 aldiz txikiagoa izan daitekeelako daude justifikatuta.
 
Mikroskopio mota hauek ikerkuntzan: [[Mikroorganismo|mikroorganismoak]], [[Zelula|zelulak]], [[molekula]] handiak, [[metalak]] eta, [[Kristal|kristalak]]... ikertzeko erabiltzen dira eta industrian: oso txikiak diren produktuen kalitate kontrol edo hutsegite probak egiteko.
 
==Historia==
16. lerroa:
==Funtzionamendua==
[[File:Electron Interaction with Matter.svg|thumb|315x315px|Elektroi eta materiaren arteko elkareragitearen ondorioz sortutako seinaleak ilustratzen dituen diagrama.]]
Mikroskopio elektroniko batean [[elektroi kanoi]] batek milioika elektroi segundoko igortzen ditu [[energia zinetiko]] jakin batekin, elektroien korronte hau elektroiek osatutako izpi bezala uler daiteke. Elektroi kanoiaren zehaztasuna ez denez nahikoa, elektroien izpia [[lente elektrostatiko]] eta lente elektromagnetiko berezi batzuen zehar igarotze da non elektroien fluxuaren norabidea fokatzen da. Fokatutako izpi hau aztertu beharreko laginaren aurka proiektatzen da, elektroi askok lagina arazorik gabe zeharkatzen dute, baina beste askok haien norabidea zeharo aldatzen dute, elektroifenomeno hauekhonetatik dira,laginaren detektagailumorfologiaren batez neurtzerakoan laginari buruzkogaineko informazioa emangolortu dutenakdaiteke. Honetaz gain, elektroi batzuek laginarekin talka egiterakoan mekanismo askoren eraginez [[energia]] galduko dute, energia hau detekta daitezken seinale bezala igortzen da (adibidez [[X izpi|x izpiak]]) eta laginari buruzko informazio gehigarria eman dezakete, informazio iturri hauei esker laginaren [[topologia]] eta konposaketa sakonki azter daiteke.
 
==Desabantailak==